一、相控陣探傷技術簡介
相控陣探傷技術（Phased Array Ultrasonic Testing, PAUT）是一種基于超聲波的先進無損檢測（NDT）技術。其核心原理是通過控制多個獨立的壓電晶片（陣列探頭）的激發時間和相位延遲，形成可動態調整的聲束。這種技術能夠實現聲束的偏轉、聚焦和掃描，從而對復雜幾何形狀的工件進行高效、高精度的缺陷檢測。 技術原理： 陣列探頭：由多個晶片（通常為16-128個）組成，每個晶片可獨立控制。 波束成形：通過調整各晶片的激發時序（相位延遲），合成特定方向的聲束。 動態聚焦：在檢測過程中實時調整焦點位置，提高分辨率和信噪比。 電子掃描：無需機械移動探頭即可覆蓋檢測區域，提升檢測效率。
二、相控陣超聲波探傷技術的核心優勢
★靈活性與多角度檢測能力
★聲束可控：通過軟件調整聲束角度（如0°-70°扇形掃描），適應復雜結構（如焊縫、曲面、異形件）的檢測。
★多角度覆蓋：一次掃描即可完成多角度檢測，避免傳統超聲需多次更換探頭的繁瑣操作。
★高分辨率與靈敏度
★動態聚焦：聲束焦點可實時調整，提高近表面和深層缺陷的檢出率。
★信噪比優化：通過合成孔徑技術（SAFT）或全聚焦法（TFM）增強缺陷信號，降低噪聲干擾。
★高效檢測與數據可視化
★電子掃描替代機械運動：大幅縮短檢測時間，尤其適用于大尺寸或批量工件。
★實時成像：支持B掃描（截面圖）、C掃描（三維投影）和S掃描（扇形掃描）成像，缺陷位置、尺寸和形態直觀可視。
★數據記錄與可追溯性
★全數據存儲：原始檢測數據（A掃波形、圖像）可存檔，便于復檢、追溯和分析。
★自動化集成：與機器人或掃查器結合，實現全自動檢測，減少人為誤差。
★安全性與適用性
★非電離輻射：相比射線檢測（如X射線），無需輻射防護，安全性更高。
★材料適應性廣：適用于金屬、復合材料、陶瓷等多種材料的檢測。
★成本效益
★減少停工時間：快速檢測能力可縮短設備停機時間，提升生產效率。
★降低后續維護成本：精準識別早期缺陷，避免因漏檢導致的設備失效。
| 對比項 | 相控陣（PAUT） | 常規超聲檢測（UT） | 射線檢測（RT） |
|---|---|---|---|
| 檢測效率 | 高（電子掃描，多角度覆蓋） | 低（需機械掃查，單角度） | 中（需多次曝光） |
| 缺陷分辨率 | 高（動態聚焦，多模式成像） | 中（依賴探頭頻率和聚焦） | 低（二維投影，重疊區域易漏檢） |
| 適用幾何復雜度 | 強（適應曲面、狹窄空間） | 弱（需定制探頭） | 中（受限于射線方向） |
| 數據可視化 | 實時多模式成像 | 僅A掃波形 | 二維膠片或數字圖像 |
| 安全性 | 高（超聲波無輻射） | 高 | 低（需輻射防護） |
| 成本 | 初始設備成本高，長期效益顯著 | 設備成本低 | 中（耗材與防護成本） |
四、應用場景
航空航天：復合材料分層檢測、渦輪葉片內部缺陷識別。
石油化工：管道環焊縫檢測、腐蝕壁厚測量。
電力能源：核電部件應力腐蝕裂紋監測、風電葉片粘接質量評估。
軌道交通：輪軸、軌道焊縫的疲勞裂紋檢測。
汽車制造：電池焊接質量、鋁合金壓鑄件氣孔檢測。
總結
相控陣探傷技術憑借其靈活性、高分辨率和數據可視化能力，正在逐步替代傳統檢測方法，成為工業無損檢測的主流選擇。盡管存在初期投入高和技術門檻等問題，但其在復雜工況下的綜合優勢（如效率、精度、安全性）使其在高端制造和關鍵設施檢測中具有不可替代性。
文章由 相控陣超聲波探傷設備 （http://www.www.htysdjc.com/）整理發布
手機掃一掃
關注我們微信公眾號
手機掃一掃
關注我們抖音號
